牛津經(jīng)典（日立分析儀器）X-Strata920

基于X-Strata920配備的四種基座配置，您可以分析任何形狀的部件樣品。開槽式設(shè)計的標準固定臺或加寬固定臺既適用于小樣品，也同樣適用于細長樣品，井深式樣品室可靈活的應(yīng)用于測量較高的樣品，選擇電動可編程樣品臺，則可自動測量多個樣品或單個樣品上的不同測量位置。日立主營EA1000AIII、EA1000VX、EA1200VX、EA1400VX、EA6000VX、EA8000VX、FT110A、X-Strata920、FT160、FT160s、FT160L。

X-Strata920兼具IPC-4552A合規(guī)性、市場領(lǐng)先的準確性和性價比以及最少的用戶培訓(xùn)需求等優(yōu)點。使用多點分析功能，可在單次測量中分析大樣本區(qū)域，必要時，用戶可返回特定點進行詳細調(diào)查，X-Strata920不僅符合IPC-4552A的要求，還具有800多個預(yù)加載校準包，專門用于各種材料篩選應(yīng)用以及易于選擇的應(yīng)用參數(shù)和方法。其操作靈活，準確性高，符合ASTMB568和ISO3497等國際測試方法。

日立X-Strata920X射線熒光鍍層測厚儀

日立X-Strata920使用X射線熒光(XRF)進行的鍍層厚度測量是經(jīng)過證明的快速的無損分析技術(shù)，X-Strata920設(shè)計為面向電子產(chǎn)品和金屬表面 處理，測量單層和多鍍層(包括合金層)，應(yīng)用專家對 X-Strata920 進行了進一步升級， 確保獲得可靠、可重復(fù)結(jié)果，滿足數(shù)百種應(yīng)用，包括 PCB 表面處理、連接器鍍層、耐腐蝕處理、裝飾表面 處理、耐磨損處理、耐高溫處理等。

X-Strata920X這一出色的工具可確保樣品符合規(guī)格，同時通過避免過度電鍍和返工來降低成本。操作員只需加載樣品，將其定位在屏幕上的目標下方，使用激光焦點對齊，即可開始測量。結(jié)果在幾秒內(nèi)即可顯示出來，然后操作員可快速執(zhí)行下一個任務(wù)。得益于通過可追溯標準打造的優(yōu)化校準方式，您將對結(jié)果的準確性充滿信心。日本日立提供多種鍍層厚度解決方案EA1000AIII、EA1000VX、EA1200VX、EA1400VX、EA6000VX、EA8000VX、FT110A、FT160、FT160s、X-Strata920）

使用X-Strata920可遵從各種行業(yè)規(guī)范，如IPC-4552A、ISO 3497、ASTM B568 和 DIN 50987。

日立FT160、FT160s、FT160L射線熒光鍍層厚度測量儀

日立主營EA1000AIII、EA1000VX、EA1200VX、EA1400VX、EA6000VX、EA8000VX、FT110A、FT160、FT160s、X-Strata92，其中FT160系列產(chǎn)品,搭載了性能X射線管，實現(xiàn)了高精度的測定。FT110A極微小準直管和可變焦距光學(xué)系統(tǒng)的組合，實現(xiàn)了對極微小部分的測定。對有段差的樣品也適用。

1. 高速測量：通過X射線檢測機的改良，對于極具代表性的Au、Pd、Ni、Cu（金、鈀、鎳、銅）多鍍層測量，相比以前機型，效率提高了2倍以上。

2. 對應(yīng)超小型的芯片零部件的厚度測量（FT160s：FT160s通過新時開發(fā)的聚光導(dǎo)管，可以測量超小型芯片零部件（電容、電阻等）的電極部的鍍層厚度測量。

3. 兼顧安全性和簡便性：采用防止X射線泄露的密集型框架和大開口且可以方便開啟和關(guān)閉的樣品門，兼顧安全性和簡便性?！窮T160s」可以對應(yīng)600×600mm的大型線路板。